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幾何光學

  • 幾何光學
幾何光學是光學學科中以光線為基礎(chǔ),研究光的傳播和成像規(guī)律的一個重要的實用性分支學科。

在幾何光學中,把組成物體的物點看作是幾何點,把它所發(fā)出的光束看作是無數(shù)幾何光線的集合,光線的方向代表光能的傳播方向。在此假設(shè)下,根據(jù)光線的傳播規(guī)律,在研究物體被透鏡或其他光學元件成像的過程,以及設(shè)計光學儀器的光學系統(tǒng)等方面都顯得十分方便和實用。

但實際上,上述光線的概念與光的波動性質(zhì)相違背,因為無論從能量的觀點,還是從光的衍射現(xiàn)象來看,這種幾何光線都是不可能存在的。所以,幾何光學只是波動光學的近似,是當光波的波長很小時的極限情況。作此近似后,幾何光學就可以不涉及光的物理本性,而能以其簡便的方法解決光學儀器中的光學技術(shù)問題。

光線的傳播遵循三條基本定律:光線的直線傳播定律,既光在均勻媒質(zhì)中沿直線方向傳播;光的獨立傳播定律,既兩束光在傳播途中相遇時互不干擾,仍按各自的途徑繼續(xù)傳播,而當兩束光會聚于同一點時,在該點上的光能量是簡單的相加;反射定律和折射定律,既光在傳播途中遇到兩種不同媒質(zhì)的光滑分界面時,一部分反射另一部分折射,反射光線和折射光線的傳播方向分別由反射定律和折射定律決定。

基于上述光線傳播的基本定律,可以計出光線在光學系統(tǒng)中的傳播路徑。這種計算過程稱為光線追跡,是設(shè)計光學系統(tǒng)時必須進行的工作。

幾何光學中研究和討論光學系統(tǒng)理想成像性質(zhì)的分支稱為高斯光學,或稱近軸光學。它通常只討論對某一軸線(即光軸)具有旋轉(zhuǎn)對稱性的光學系統(tǒng)。如果從物點發(fā)出的所有光線經(jīng)光學系統(tǒng)以后都交于同一點,則稱此點是物點的完善像。

如果物點在垂軸平面上移動時,其完善像點也在垂軸平面上作線性移動,則此光學系統(tǒng)成像是理想的??梢宰C明,非常靠近光軸的細小物體,其每個物點都以很細的、很靠近光軸的單色光束被光學系統(tǒng)成像時,像是完善的。這表明,任何實際的光學系統(tǒng)(包括單個球面、單個透鏡)的近軸區(qū)都具有理想成像的性質(zhì)。

為便于一般地了解光學系統(tǒng)的成像性質(zhì)和規(guī)律,在研究近軸區(qū)成像規(guī)律的基礎(chǔ)上建立起被稱為理想光學系統(tǒng)的光學模型。這個模型完全撇開具體的光學系統(tǒng)結(jié)構(gòu),僅以幾對基本點的位置以及一對基本量的大小來表征。

根據(jù)基本點的性質(zhì)能方便地導出成像公式,從而可以了解任意位置的物體被此模型成像時,像的位置、大小、正倒和虛實等各種成像特性和規(guī)律。反過來也可以根據(jù)成像要求求得相應(yīng)的光學模型。任何具體的光學系統(tǒng)都能與一個等效模型相對應(yīng),對于不同的系統(tǒng),模型的差別僅在于基本點位置和焦距大小有所不同而已。

高斯光學的理論是進行光學系統(tǒng)的整體分析和計算有關(guān)光學參量的必要基礎(chǔ)。 

利用光學系統(tǒng)的近軸區(qū)可以獲得完善成像,但沒有什么實用價值。因為近軸區(qū)只有很小的孔徑(即成像光束的孔徑角)和很小的視場(即成像范圍),而光學系統(tǒng)的功能,包括對物體細節(jié)的分辨能力、對光能量的傳遞能力以及傳遞光學信息的多少等,正好是被這兩個因素所決定的。要使光學系統(tǒng)有良好的功能,其孔徑和視場要遠比近軸區(qū)所限定的為大。 

當光學系統(tǒng)的孔徑和視場超出近軸區(qū)時,成像質(zhì)量會逐漸下降。這是因為自然點發(fā)出的光束中,遠離近軸區(qū)的那些光線在系統(tǒng)中的傳播光路偏離理想途徑,而不再相交于高斯像點(即理想像點)之故。這時,一點的像不再是一個點,而是一個模糊的彌散斑;物平面的像不再是一個平面,而是一個曲面,而且像相對于物還失去了相似性。所有這些成像缺陷,稱為像差。

用單色光成像時,有五種不同性質(zhì)的像差,即球差彗差、像散、場曲和畸變。前三種像差破壞了點點對應(yīng)。其中,球差使物點的像成為圓形彌散斑,彗差造成彗星狀彌散斑,而像散則導致橢圓形彌散斑。場曲使物平面的像面彎曲,畸變使物體的像變形。

此外,當用較寬波段的復(fù)色光成像時,由于光學媒質(zhì)的折射率隨波長而異,各色光經(jīng)透鏡系統(tǒng)逐面折射時,必會因色散而有不同的傳播途徑,產(chǎn)生被稱為色差的成像缺陷。色差分兩種:位置色差和倍率色差。前者導致不同的色光有不同的成像位置,后者導致不同的色光有不同的成像倍率。兩者都使像帶色而嚴重影響成像質(zhì)量,即使在近軸區(qū)也不能幸免。

各種像差的實際值需通過若干條光線的追跡而得知。但是,在稍大于近軸區(qū)的范圍(稱賽德耳區(qū))內(nèi),成像缺陷可以用初級像差(也稱賽德耳像差)來描述。初級像差值只需通過對二條近軸光線的追跡就能全部計算出來。像差,特別是初級像差已有相當完整的理論,是光學系統(tǒng)設(shè)計的理論基礎(chǔ)。

為使光學系統(tǒng)在具有大的孔徑和視場時能良好成像,必須對像差作精細校正和平衡,這不是用簡單的系統(tǒng)所能實現(xiàn)的。所以,高性能的實際光學系統(tǒng)需要有較復(fù)雜的結(jié)構(gòu)形式。

一個光學系統(tǒng)須滿足一系列要求,包括:放大率、物像共軛距、轉(zhuǎn)像和光軸轉(zhuǎn)折等高斯光學要求;孔徑和視場等性能要求,以及校正像差和成像質(zhì)量等方面的要求。這些要求都需要在設(shè)計時予以考慮和滿足。因此,光學系統(tǒng)設(shè)計工作應(yīng)包括:對光學系統(tǒng)進行整體安排,并計算和確定系統(tǒng)或系統(tǒng)的各個組成部分的有關(guān)高斯光學參量和性能參量;選取或確定系統(tǒng)或系統(tǒng)各組成部分的結(jié)構(gòu)形式并計算其初始結(jié)構(gòu)參量;校正和平衡像差;評價像質(zhì)。

像差與光學系統(tǒng)結(jié)構(gòu)參量(如透鏡厚度、透鏡表面曲率半徑等)之間的關(guān)系極其復(fù)雜,不可能以具體的函數(shù)式表達出來,因而無法采用解方程之類的辦法直接由像差要求計算出系統(tǒng)的精確結(jié)構(gòu)參量?,F(xiàn)在能做到的是求得滿足初級像差要求的解。

初級像差是實際像差的近似表示,僅在孔徑和視場較小時能反映實際的像差情況,因此,按初級像差要求求得的解只是初始的結(jié)構(gòu)參量,需對其進行修改才能達到像差的進一步校正和平衡,在這一過程中,傳統(tǒng)的做法是根據(jù)追跡光線得到的像差數(shù)據(jù)及其在系統(tǒng)各面上的分布情況,進行分析、判斷,找出對像差影響大的參量,加以修改,然后再追跡光線求出新的像差數(shù)據(jù)加以訐價。如此反復(fù)修改,直到把應(yīng)該考慮的各種像差都校正和平衡到符合要求為止。這是一個極其繁復(fù)和費時很多的過程。 

電子計算機的問世和應(yīng)用,給光學設(shè)計工作以很大的促進。光學自動設(shè)計能根據(jù)系統(tǒng)各個結(jié)構(gòu)參量對像差的影響,同時修改對像差有校正作用的所有參量,使各種像差同時減小,因此能充分發(fā)揮各個結(jié)構(gòu)參量對像差的校正作用,不僅加快了設(shè)計速度,也提高了設(shè)計質(zhì)量。

在光學自動設(shè)計中,需構(gòu)造一個既便于計算機作判斷又能反映所設(shè)計系統(tǒng)像質(zhì)優(yōu)劣的評價函數(shù),以引導計算機對結(jié)構(gòu)參量的修改。通常,用加權(quán)像差的二次方之和構(gòu)成評價函數(shù),它是系統(tǒng)結(jié)構(gòu)參量的函數(shù)。每修改一次結(jié)構(gòu)參數(shù)(稱為一次迭代)都會引起評價函數(shù)值的變化,如果有所降低,就表示像差有所減小,像質(zhì)有所提高。

結(jié)構(gòu)參量的改變要有一定的約束,以保證有關(guān)邊界條件得到滿足。所以,所謂光學自動設(shè)計,就是在滿足邊界條件的前提下,經(jīng)過若干次迭代,由計算機自動找出一組結(jié)構(gòu)參量,使其評價函數(shù)為極小值。現(xiàn)在用于光學自動設(shè)計的數(shù)學方法很多,較為有效、已為大家所采用的有阻尼最小二乘法,標準正交化法和適應(yīng)法等。

其它光學分支學科

光學、幾何光學、波動光學、大氣光學、海洋光學、 量子光學、光譜學、生理光學、電子光學、集成光學、空間光學 

其它物理學分支學科

物理學概覽、力學、熱學、光學、聲學、電磁學、核物理學、固體物理學


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