偏光儀

　　結(jié)構(gòu)原理

　　由上下偏光片和光源組成。此外還可配有玻璃載物臺、干涉球和凸透鏡。光源一般采用普通白熾燈，有時在光源箱前側(cè)開一個狹窄的窗口，也可以為折射儀提供光源。偏光鏡在設(shè)計時通常采用下偏光片固定，上偏光片可以轉(zhuǎn)動，從而調(diào)整偏光方向。

　　當(dāng)自然光通過下偏光片時，即產(chǎn)生偏光，若上下偏光方向平行，來自下偏光片的偏振光全部通過，則視域亮度最大；若上下偏光方向垂直，來自下偏光片的偏振光全部被阻擋，此時視域最暗，即產(chǎn)生消光。

　　使用方法

　　1.清潔寶石，觀察寶石是否透明。

　　2.打開偏光鏡電源開關(guān)，旋轉(zhuǎn)上偏光片直至消光位置。

　　3.將寶石放在下偏光片上方的載物臺上，在水平方向上轉(zhuǎn)動寶石360°，觀察寶石明暗變化。

　　現(xiàn)象解釋

　　均質(zhì)體

　　當(dāng)自然光通過下偏光片透過寶石時，光的振動方向不發(fā)生變化，仍為偏振光。通過上偏光片后，光全部被阻擋。因此轉(zhuǎn)動寶石在視域中呈全暗（消光）。

　　非均質(zhì)體

　　晶體中除等軸晶系寶石外，都為非均質(zhì)體。當(dāng)待測寶石為非均質(zhì)體時，在正交偏光鏡下，轉(zhuǎn)動寶石，會出現(xiàn)四明四暗現(xiàn)象。這是因為非均質(zhì)體具有將光分解成振動方向相互垂直的兩束偏光的性質(zhì)（光軸方向除外）。

　　雙折射寶石在上下偏光的共同作用下，由消光與干涉效應(yīng)綜合作用而產(chǎn)生的特殊圖案，成為干涉圖。根據(jù)干涉圖的形狀可以判斷寶石的軸性。

　　一軸晶干涉圖為一個黑十字加上圍繞十字的多圈干涉色色圈。

　　二軸晶干涉圖分為兩種，即雙光軸干涉圖和單光軸干涉圖。

　　多晶質(zhì)寶石

　　多晶非均質(zhì)集合體寶石在正交偏光鏡下，轉(zhuǎn)動360°，寶石在視域中是明亮的。多晶集合體中大量晶體雜亂排列，不同晶體將光分解后，產(chǎn)生的偏振光振動方向也雜亂無章，各個方向都有，近似自然光。聚片雙晶發(fā)育的寶石情況類似。

　　多晶均質(zhì)集合體寶石在正交偏光鏡下，轉(zhuǎn)動360°，寶石在視域中全暗。

　　特殊現(xiàn)象

　?。?）異常消光

　　許多均質(zhì)體寶石在正交偏光下出現(xiàn)不規(guī)則的明暗變化，這種現(xiàn)象稱為異常消光，由于在均質(zhì)體寶石中出現(xiàn)異常雙折射造成的。

　?。?）全暗假象

　　有些高折射寶石如鉆石、鋯石、CZ等，若切工良好，臺面向下放置時幾乎沒有光線能夠穿過，那么無論寶石為均質(zhì)體或非均質(zhì)體，均會呈現(xiàn)全暗的假象。

　?。?）其他假象

　　某些透明的單晶寶石有較多的明顯的裂隙或含有大量的包體，裂隙和包體影響光的傳播，難以判斷光性。

　　局限性

　　1、偏光鏡不適用于不透明的寶石的測試。待測寶石必須是透明或半透明，至少部分透明或半透明。如某些透光性不好的弧面型寶石，由于邊部較薄，可呈半透明，仍可進(jìn)行測試。

　　2、若待測寶石透明，但含有大量的裂隙或包體，測試的可靠性較差。