第一節(jié) 其他類設(shè)備電暈放電類型及原因分析
電力設(shè)備紫外檢測圖譜

        主要包括實驗室進行的試驗、二次端子及其他電氣設(shè)備類的異常放電,放電原因復(fù)雜多樣,本章主要描述以下原因造成的放電圖譜:(1)實驗室人為造成的異常放電;(2)低壓二次端子由于接觸不良造成場強集中點;(3)現(xiàn)場試驗(或者實驗室)中    （本文共 127 字 ）    [閱讀本文] >>