3.2.4 精確測(cè)定試樣的晶體學(xué)取向[4、7]

所屬欄目：電子衍襯

晶體學(xué)取向的測(cè)定一般包括三種情況:一是試樣在未進(jìn)行傾斜,即處于零傾斜位置時(shí),試樣表面垂直于電子束方向,只要精確測(cè)定試樣膜面法線的取向FN即可。應(yīng)該指出,從單晶斑點(diǎn)衍射譜測(cè)得的晶帶指數(shù)[uvw]只能有條件地視為試樣表面的 ......（本文共 900 字 ）     [閱讀本文] >>


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