第一節(jié) 其他類(lèi)設(shè)備電暈放電類(lèi)型及原因分析

所屬欄目：電力設(shè)備紫外檢測(cè)圖譜

主要包括實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的試驗(yàn)、二次端子及其他電氣設(shè)備類(lèi)的異常放電,放電原因復(fù)雜多樣,本章主要描述以下原因造成的放電圖譜:(1)實(shí)驗(yàn)室人為造成的異常放電;(2)低壓二次端子由于接觸不良造成場(chǎng)強(qiáng)集中點(diǎn);(3)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)(或者實(shí)驗(yàn)室)中 ......（本文共 127 字 ）     [閱讀本文] >>


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