海量資源,盡在掌握
 這種STEM為附件型,一般附加在SEM或TEM上,其分辨率較低,如是透射電鏡附件型,分辨率一般可達1~1.5nm;如是掃描電鏡附件型,分辨率一般只有4~6nm。這種附件型STEM主要用于X射線能譜、波譜分析或電子損失譜分析,用以觀察元素的分布圖。 (共 456 字) [閱讀本文] >>