基于高效核偏最小二乘的質(zhì)量相關(guān)故障檢測

摘要： 核偏最小二乘(KPLS)是一種多元統(tǒng)計方法,廣泛應(yīng)用于過程監(jiān)控,然而, KPLS采用斜交分解,導(dǎo)致質(zhì)量相關(guān)空間存在冗余信息易引發(fā)誤報警.因此,本文提出了高效核偏最小二乘(EKPLS)模型,所提方法通過奇異值分解(SVD)將核矩陣正交分解為質(zhì)量相關(guān)空間和質(zhì)量無關(guān)空間,有效降低質(zhì)量相關(guān)空間中的冗余信息,并采用主成分分析(PCA)按方差大小將質(zhì)量相關(guān)空間分解為質(zhì)量主空間和質(zhì)量次空間....