基于主成分分析和節(jié)點(diǎn)像差理論的公差降敏方法

摘要： 為了在設(shè)計(jì)階段預(yù)測(cè)光學(xué)系統(tǒng)加工裝配后的像質(zhì)并降低加工裝配難度，提升設(shè)計(jì)效率，文中提供了一個(gè)高效的公差靈敏度降低方法。首先使用Zernike多項(xiàng)式量化像差，基于線性代數(shù)理論和Monte Carlo分析尋找引入擾動(dòng)后系統(tǒng)的像差變化規(guī)律，通過(guò)降維后的像差場(chǎng)以及特征值分布確定主要引入像差；對(duì)系統(tǒng)制造過(guò)程中可能出現(xiàn)的失對(duì)稱擾動(dòng)和軸向擾動(dòng)進(jìn)行建模，基于節(jié)點(diǎn)像差理論描述擾動(dòng)造成的引入像差，并...