Cr/Zr涂層環(huán)向壓縮表面裂紋識(shí)別研究

摘要： 針對(duì)Cr/Zr涂層表面裂紋圖像存在的視野暗、噪聲高及人工識(shí)別效率低等問題，建立Cr涂層表面裂紋自動(dòng)精確識(shí)別與關(guān)鍵參數(shù)提取的技術(shù)和方法，并開展相關(guān)分析。在Cr/Zr涂層包殼管上進(jìn)行環(huán)向壓縮試驗(yàn)，采集裂紋圖像，對(duì)采集到的圖像數(shù)據(jù)設(shè)計(jì)了一種Cr涂層表面裂紋識(shí)別與分析算法—CSCRA算法，該算法基于U2-Net神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)裂紋進(jìn)行語義分割，從而獲得Cr涂層表面裂紋的位置信息，然后設(shè)計(jì)了一...