1.用途:測(cè)試具有高雙折率,或拋光不良的樣品(硬度較低的材料有時(shí)拋光不良),通常點(diǎn)測(cè)法或平刻面法無(wú)法測(cè)出它們的折射率。適用材料如下:①碳酸鹽類(lèi)(如:珍珠、貝殼、方解石、孔雀石、菱錳礦等)。②也可用于具有中至高雙折率的非 (共 501 字) [閱讀本文] >>
海量資源,盡在掌握
 1.用途:測(cè)試具有高雙折率,或拋光不良的樣品(硬度較低的材料有時(shí)拋光不良),通常點(diǎn)測(cè)法或平刻面法無(wú)法測(cè)出它們的折射率。適用材料如下:①碳酸鹽類(lèi)(如:珍珠、貝殼、方解石、孔雀石、菱錳礦等)。②也可用于具有中至高雙折率的非 (共 501 字) [閱讀本文] >>