1.最低檢測(cè)限用最低檢測(cè)限CDL來(lái)表示和識(shí)別最小譜峰的能力。CDL隨多種因素的影響而變化,包括用于分析的譜線種類、加速電壓、基體、探測(cè)效率、樣品的幾何條件、計(jì)數(shù)時(shí)間和峰背比等,對(duì)于低于Na以下的輕元素均不能準(zhǔn)確檢測(cè),而對(duì) (共 1571 字) [閱讀本文] >>
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