一、發(fā)現(xiàn)經(jīng)過2010年11月19日,紅外檢測中發(fā)現(xiàn),某35kV375TA存在A、B相接點(diǎn)發(fā)熱現(xiàn)象,如圖2-17所示。二、檢測分析2011年1月27日,經(jīng)現(xiàn)場檢測,引線接觸面接觸電阻合格,而本體接觸面接觸電阻偏大,如圖2-18所示。圖2-1735kV375TA紅外熱譜圖圖2-18接 (共 1853 字) [閱讀本文] >>
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 一、發(fā)現(xiàn)經(jīng)過2010年11月19日,紅外檢測中發(fā)現(xiàn),某35kV375TA存在A、B相接點(diǎn)發(fā)熱現(xiàn)象,如圖2-17所示。二、檢測分析2011年1月27日,經(jīng)現(xiàn)場檢測,引線接觸面接觸電阻合格,而本體接觸面接觸電阻偏大,如圖2-18所示。圖2-1735kV375TA紅外熱譜圖圖2-18接 (共 1853 字) [閱讀本文] >>