海量資源,盡在掌握
 利用火箭、衛(wèi)星等空間飛行器將探測裝置攜帶到電離層中,測量電離層介質(zhì)對裝置的直接作用,以獲得電離層參量的方法。直接探測能測到間接探測不易測到的參量,如離子成分、離子密度、離子溫度和高空磁場等;測量精度高, (本文共 1380 字 ) [閱讀本文] >>